Элементное картирование
Программное обеспечение позволяет строить карты распределения элементов в диапазоне от Na до U и исследовать неоднородность объектов.
Микроанализ
Благодаря минимальному размеру рентгеновского пятна 20 мкм, возможно проведение элементного картирования с высоким разрешением, а также качественного и количественного рентгенофлуоресцентного анализа.
Точность позиционирования
Высокопрецизионный предметный стол, совмещённый с оптическим микроскопом/видеокамерой, даёт возможность точно исследовать заданную оператором область.
Рентгенография
С помощью специального детектора, расположенного под объектом исследования, выводятся рентгенографические изображения.
Видеозахват области сканирования
Выбор области измерения проводят по изображению с видеокамеры или оптического микроскопа с последующей возможностью его наложения на результаты элементного картирования.
Нестандартные размеры объектов
Возможно проведение измерений крупногабаритных образцов неправильной формы.
Отсутствие пробоподготовки
Нет необходимости в проведении дополнительной подготовки анализируемых образцов.
- Спектрометр рентгенофлуоресцентный позволяет проводить неразрушающий элементный анализ любых объектов.
- Подходит для решения широкого круга аналитических задач и может быть использован как в научно-исследовательских проектах, так и в промышленности.
- Особенностью рентгенофлуоресцентного спектрометра является возможность измерения легких элементов от С (углерода).
- Набор первичных фильтров позволяет прибору определять концентрации элементов от единиц ppm.
- Конструкция прибора позволяет измерять образцы в любом агрегатном состоянии (в том числе жидкости), а также проводить анализ крупногабаритных образцов.
• учебно-методические задания с готовым набором образцов
• практические задания с готовыми образцами
• модульная конструкция
• высокая степень безопасности
• компактный размер
• гибкость установки проб
• уникальная геометрия инверсионного зонда
• модульная конструкция
• уникальная геометрия инверсионного зонда
• гибкость установки проб
• высокая степень безопасности
• компактный размер
• учебно-методические задания с готовым набором образцов
• практические задания с готовыми образцами
- Источник ионов - из инертного металла с минимальной адсорбцией
- Двойной катод - с программным переключением
- Квадруполь - из высококачественного металла с бесконечным сроком службы
- Высочайшая чувствительность
- Прямой анализ твердофазных образцов без растворения
- Монолитные и порошковые пробы
- Определение любых химических элементов (в т.ч. F, O, N, Cl, U, Th, РЗЭ)
- Одновременное определение микропримесей и основных компонентов
- Элементный и изотопный анализ
- Профилирование по глубине
- Низкие пределы обнаружения
- Отсутствие перегрева пробы
- Прямой анализ в реальном времени
- Высокочувствительное определение летучих органических и неорганических соединений
- Мягкая Пеннинговская ионизация, приводящая к низкой фрагментации ЛОС и упрощающая их идентификацию
- Возможность использования электронной ионизации
- Низкий уровень фона, эффективная ионизация, низкие пределы обнаружения
- Изотопный анализ
- Нет дополнительного разрядного газа (Ar, He и др.)
