Подробнее
Фильтр
Сначала популярные
0
Вес, кг
—
66
Применение
—
Для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элементного анализа
Диапазон рабочих температур
—
От + 18 °С до + 22 °С
Габариты(ВхШхГ), мм
—
625х587х316
Госреестр
—
Внесён в Госреестр СИ.
Цвет
—
Фиолетовый
Особенности
—
- Для управления производитель предусмотрел поворотную кнопку. Она позволяет быстро настраивать оборудование, получая точные сведения про образец
- Простое переключение на работу в электронном режиме
- Уже через 30 секунд после загрузки образца можно получить изображение с высоким разрешением. Эта модель отличается от модели Pro наличием химанализа (ЭДС детектор)
- Данные, полученные при исследовании образца, можно сохранить на флеш-карту (через USB) или перенести на компьютер. Это облегчает последующую работу с информацией
- После загрузки исследуемого образца его изображение удается получить уже через 30 секунд. Это свидетельствует о высокой скорости работы микроскопа
- Применение специальных держателей. Они предназначены для токонепроводящих образцов. С их помощью удается исключить необходимость в проведении специальной подготовки исследуемого материала
0
Вес, кг
—
91
Диапазон рабочих температур
—
От + 18 °С до + 22 °С
Применение
—
Для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элементного анализа
Габариты(ВхШхГ), мм
—
316х587х625
Госреестр
—
Не внесен
Цвет
—
Фиолетовый
Особенности
—
- Ключевое преимущество ХL - увеличенный пробозагрузочник, для образцов больших размеров, нежели в обычных настольных СЭМ
- Информация про образец доступна через 30 секунд после его размещения на предметном столике
- Управление и изменение настроек оборудования осуществляются нажатием соответствующей кнопки
- Применение специальных держателей исключает необходимость дополнительной пробоподготовки
- Изображения предоставляются в двух режимах. Первый стандартный – композиционный. Второй – топографический. Он позволяет оценить рельеф поверхности исследуемого образца